KLA+

  • KLA+
  • Nro. Acta:3763510
  • Marca:KLA+
  • Tipo Marca:Mixta

Datos Generales

Fecha Presentación: 05/12/2018
Renovación de:
Rebovada por:
Domicilio Legal: ----
Nro. Efector:
Ubicación del Expediente: 2019-09-25 División Resoluciones

Titularidad

Nombre: KLA-TENCOR CORPORATION 100.00%
Tipo DNI: Concedida
DNI:
Territorio Legal: USA
Domicilio Real: ONE TECHNOLOGY DRIVE MILPITAS
Localidad: 95035 CP. 95035
Clase: Aparatos e instrumentos científicos, náuticos, geodésicos, fotográficos, cinematográficos, ópticos, de pesar, de medida, de señalización, de control (inspección), de socorro (salvamento) y de enseñanza; aparatos e instrumentos para la conducción, distribución, transformación, acumulación, regulación o control de la electricidad; aparatos para el registro, transmisión, reproducción del sonido o imágenes; soportes de registro magnéticos, discos acústicos; distribuidores automáticos y mecanismos para aparatos de previo pago; cajas registradoras, máquinas calculadoras, equipos para el tratamiento de la información y ordenadores; extintores.
Protección: Solamente
País: ESTADOS UNIDOS DE NORTEAMERICA
Limitación: HARDWARE; HARDWARE Y SOFTWARE PARA ANALIZAR, INSPECCIONAR, CARACTERIZAR Y PREDECIR PROPIEDADES FÍSICAS Y ELÉCTRICAS DE LOS SEMICONDUCTORES, CIRCUITOS INTEGRADOS, MICROELECTRÓNICOS, OBLEAS Y MÁSCARAS LITOGRÁFICAS; INSTRUMENTOS PARA ANALIZAR, INSPECCIONAR Y CARACTERIZAR PROPIEDADES FÍSICAS DE SEMICONDUCTORES Y CIRCUITOS INTEGRADOS; SOFTWARE PARA SU USO EN CONTROL DE PROCESOS Y GESTIÓN DE RENDIMIENTO PARA LAS INDUSTRIAS DE FABRICACIÓN DE SEMICONDUCTORES, CIRCUITOS INTEGRADOS Y MICROELECTRÓNICA RELACIONADAS; SOFTWARE PARA PROPORCIONAR DATOS ANALÍTICOS SOBRE EL RENDIMIENTO DE LAS HERRAMIENTAS DE INSPECCIÓN Y METROLOGÍA; HARDWARE Y SOFTWARE UTILIZADOS PARA MONITOREAR, CONTROLAR Y MEJORAR LOS PROCESOS DE FABRICACIÓN DE CIRCUITOS INTEGRADOS Y SEMICONDUCTORES; HARDWARE Y SOFTWARE UTILIZADOS PARA LA PREDICCIÓN DE EVENTOS EN LA FABRICACIÓN DE SEMICONDUCTORES Y CIRCUITOS INTEGRADOS; HERRAMIENTAS DE HARDWARE REACONDICIONADAS, A SABER, HARDWARE DE INSPECCIÓN, METROLOGÍA Y PRUEBA QUE SE UTILIZAN EN EL CAMPO DE SEMICONDUCTORES, CABEZALES DE PELICULA DELGADA E INDUSTRIAS RELACIONADAS QUE UTILIZAN LA MISMA TECNOLOGIA DE FABRICACIÓN; SISTEMAS DE INSPECCIÓN DE DEFECTOS DE SEMICONDUCTORES Y OBLEAS COMPUESTOS POR SOFTWARE, DATOS DE PRUEBAS FINALES Y ALGORITMOS DE DATOS ELÉCTRICOS, Y EQUIPOS DE HARDWARE DE DEFECTOS INSERTADOS Y METROLOGÍA; SOFTWARE PARA SU USO EN LA DETECCIÓN DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS SEMICONDUCTORES DEFECTUOSOS.