AR132463 A1 Sol. P240100983 Patente publicada en INPI
MÉTODO Y SISTEMA PARA LA CARACTERIZACIÓN ÓPTICA DE MUESTRAS DELGADAS
IPC Sección G Boletín 1447
Presentación
18/04/2024
Publicación
02/07/2025
Códigos IPC
4
Solicitante
Ypf Tecnología S.a.
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Inventores (4)
DE
Domené, Esteban Alejo
GH
Grecco, Hernán Edgardo
BJ
Bujjamer, Juan Marco
TJ
Torres, Joaquin -
Clasificación Internacional de Patentes (IPC)
G06T 7/00
7/11
7/62
7/90
Resumen técnico
La presente descripción describe un método microscópico que aplica pticografía de Fourier para analizar muestras delgadas, como aquellas asociadas a la petrografía digital y la patología digital. La descripción provee además un sistema integrado capaz de llevar a cabo el método anteriormente mencionado.