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AR131774 A1 Sol. P240100262 Patente publicada en INPI

SISTEMAS Y MÉTODOS PARA UNA EVALUACIÓN MEJORADA DE FORMACIONES CON MAPAS T1-T2

IPC Sección G IPC Sección E Boletín 1433
Presentación
02/02/2024
Publicación
30/04/2025
Códigos IPC
3

Inventores (3)

BG

Bordakov, George Alexis

US

Utsuzawa, Shin

AD

Allen, David F.

Clasificación Internacional de Patentes (IPC)

G01V 3/14
3/32
E21B 47/12

Resumen técnico

La presente descripción se relaciona con diversos sistemas y métodos para utilizar estos mapas T1-T2 para una evaluación mejorada de formaciones. Por ejemplo, como se describe más detalladamente en la presente, estas técnicas incluyen: (1) la regularización de Tikhonov que se usa en una inversión de RMN y el sesgo resultante, (2) el promedio de profundidad variable de los mapas bidimensionales (2D) de RMN según T1-T2, y (3) corrección de núcleo de la RMN.